Researchers at the University of New South Wales (UNSW) in Australia evaluated the effects of different flux types on the corrosion of metal contacts in tunneling oxide passivated contact (TOPCon) solar cells under damp heat conditionsنتایج نشان داد که جریان های "غیر تمیز" می توانند باعث خوردگی شدید تماس های نقره-الومینیوم (Ag-Al) در سمت جلو شوند.
آزمایش گرما رطوبت (DH) یک آزمایش پیر شدن شتاب دهنده است که دستگاه های خورشیدی را به 85 °C و رطوبت 85٪ برای حداقل 1000 ساعت برای ارزیابی قابلیت اطمینان ماژول در این شرایط شدید قرار می دهد."تحقیقات ما به تولید کنندگان فتوولتائیک یک راه حل سریع را ارائه می دهد.، روش کم هزینه ای برای شناسایی مشکلات مربوط به قابلیت اطمینان جریان در اوایل تولید، در نتیجه کاهش ادعاهای گارانتی و از دست دادن عملکرد ناشی از خوردگی ناشی از رطوبت، "برام هوکس گفت،نویسنده مقالات.
جریان در طول مونتاژ ماژول برای حذف لایه اکسید از سطح نوار جوش برای اطمینان از یک پیوند فلزی قوی استفاده می شود.که نیاز به تمیز کردن ندارند و می توانند لایه اکسید را از بین ببرند و پیوند قوی ایجاد کنند، اما مقدار کمی از بقایای غیر رسانا را باقی می گذارد.
در این آزمایش دو فلوکس تجاری مورد استفاده قرار گرفت: فلوکس A، مبتنی بر اسید کربوکسیلیک و فلوکس B، مبتنی بر اسید مالیک.سه سلول TOPCon نوع n با استفاده از فرآیند بهینه سازی تماس تقویت شده لیزر (LECO) در سال 2019 تولید شدمحققان متوجه شدند که سلول ها دارای ساختار مشابهی هستند، با یک فرستنده پیشانی با بورون پوشانده شده با اکسید آلومینیوم (Al2O3) و نیترید سیلیکون (SiNx) ،و خطوط شبکه نقره ای چاپ شدهدر قسمت عقب از دی اکسید سیلیکون (SiO2) ، پلی سیلیکون فوسفوری، SiNx و خطوط شبکه نقره ای تشکیل شده است.
نمونه ها به پنج گروه تقسیم شدند: Flux Front-Side A، Flux Front-Side B، Flux Back-Side A، Flux Back-Side B و یک کنترل بدون فلوکس.جریان با اسپری اعمال شد و در 85 °C گرم برای حداکثر 10 دقیقه خشک شد.
تجزیه و تحلیل نشان داد که باقیمانده های جریان "غیر تمیز" باعث خوردگی قابل توجهی از تماس های AgAl در TOPCon در شرایط گرمای مرطوب شده شده، افزایش مقاومت سری و کاهش بهره وری می شود.هکس اشاره کرد، "فلوکس A حاوی هالوجن به طور قابل توجهی بیشتر از فلوکس B خوردنی است، اما هر دو می توانند باعث تخریب قابل توجهی شوند".
تیم تحقیقاتی همچنین دریافتند که پسته نقره پشت به دلیل ثبات شیمیایی بیشتر آن، تخریب کمی را نشان می دهد.در حالی که یک ساختار متالیزه شده متراکم و محتوای آلومینیوم پایین تر مقاومت در برابر خوردگی را بهبود می بخشد.
برای حل این مسائل، محققان توصیه می کنند آزمایش گرما مرطوب بر روی سلول های بسته بندی نشده قبل از بسته بندی ماژول انجام شود تا به سرعت خطرات مربوط به جریان شناسایی شود.آنها همچنین توصیه می کنند که یک هالوجن کم را انتخاب کنید، فرمول فلوکس بهینه شده اسید و بهینه سازی ترکیب و ساختار خمیر فلز سازی برای محدود کردن نفوذ فلوکس.
نتایج تحقیقات در مجله مواد انرژی خورشیدی و سلول های خورشیدی با عنوان "ارزیابی تاثیر خوردگی ناشی از جریان جوش در سلول های خورشیدی TOPCon" منتشر شده است.
پیش از این، یک مطالعه مشترک توسط UNSW و Canadian Solar تایید کرد که انتخاب جریان برای قابلیت اطمینان سلول های TOPCon و heterojunction (HJT) بسیار مهم است.یک تیم جداگانه از موسسه فناوری الکترونیک کره (KETI) دریافت که جریان های تجاری می توانند الکترود های اکسید قلعین ایندیوم (ITO) را در سلول های HJT خورد کنندUNSW همچنین مکانیسم های تجزیه سلول های TOPCon را تحت محرک UV، کپسول کردن استات وینیل اتیلن (EVA) و قرار گرفتن در معرض یون های سدیم بررسی کرده است.نشان دادن حالت های مختلف شکست که در ماژول های PERC دیده نمی شود.
Researchers at the University of New South Wales (UNSW) in Australia evaluated the effects of different flux types on the corrosion of metal contacts in tunneling oxide passivated contact (TOPCon) solar cells under damp heat conditionsنتایج نشان داد که جریان های "غیر تمیز" می توانند باعث خوردگی شدید تماس های نقره-الومینیوم (Ag-Al) در سمت جلو شوند.
آزمایش گرما رطوبت (DH) یک آزمایش پیر شدن شتاب دهنده است که دستگاه های خورشیدی را به 85 °C و رطوبت 85٪ برای حداقل 1000 ساعت برای ارزیابی قابلیت اطمینان ماژول در این شرایط شدید قرار می دهد."تحقیقات ما به تولید کنندگان فتوولتائیک یک راه حل سریع را ارائه می دهد.، روش کم هزینه ای برای شناسایی مشکلات مربوط به قابلیت اطمینان جریان در اوایل تولید، در نتیجه کاهش ادعاهای گارانتی و از دست دادن عملکرد ناشی از خوردگی ناشی از رطوبت، "برام هوکس گفت،نویسنده مقالات.
جریان در طول مونتاژ ماژول برای حذف لایه اکسید از سطح نوار جوش برای اطمینان از یک پیوند فلزی قوی استفاده می شود.که نیاز به تمیز کردن ندارند و می توانند لایه اکسید را از بین ببرند و پیوند قوی ایجاد کنند، اما مقدار کمی از بقایای غیر رسانا را باقی می گذارد.
در این آزمایش دو فلوکس تجاری مورد استفاده قرار گرفت: فلوکس A، مبتنی بر اسید کربوکسیلیک و فلوکس B، مبتنی بر اسید مالیک.سه سلول TOPCon نوع n با استفاده از فرآیند بهینه سازی تماس تقویت شده لیزر (LECO) در سال 2019 تولید شدمحققان متوجه شدند که سلول ها دارای ساختار مشابهی هستند، با یک فرستنده پیشانی با بورون پوشانده شده با اکسید آلومینیوم (Al2O3) و نیترید سیلیکون (SiNx) ،و خطوط شبکه نقره ای چاپ شدهدر قسمت عقب از دی اکسید سیلیکون (SiO2) ، پلی سیلیکون فوسفوری، SiNx و خطوط شبکه نقره ای تشکیل شده است.
نمونه ها به پنج گروه تقسیم شدند: Flux Front-Side A، Flux Front-Side B، Flux Back-Side A، Flux Back-Side B و یک کنترل بدون فلوکس.جریان با اسپری اعمال شد و در 85 °C گرم برای حداکثر 10 دقیقه خشک شد.
تجزیه و تحلیل نشان داد که باقیمانده های جریان "غیر تمیز" باعث خوردگی قابل توجهی از تماس های AgAl در TOPCon در شرایط گرمای مرطوب شده شده، افزایش مقاومت سری و کاهش بهره وری می شود.هکس اشاره کرد، "فلوکس A حاوی هالوجن به طور قابل توجهی بیشتر از فلوکس B خوردنی است، اما هر دو می توانند باعث تخریب قابل توجهی شوند".
تیم تحقیقاتی همچنین دریافتند که پسته نقره پشت به دلیل ثبات شیمیایی بیشتر آن، تخریب کمی را نشان می دهد.در حالی که یک ساختار متالیزه شده متراکم و محتوای آلومینیوم پایین تر مقاومت در برابر خوردگی را بهبود می بخشد.
برای حل این مسائل، محققان توصیه می کنند آزمایش گرما مرطوب بر روی سلول های بسته بندی نشده قبل از بسته بندی ماژول انجام شود تا به سرعت خطرات مربوط به جریان شناسایی شود.آنها همچنین توصیه می کنند که یک هالوجن کم را انتخاب کنید، فرمول فلوکس بهینه شده اسید و بهینه سازی ترکیب و ساختار خمیر فلز سازی برای محدود کردن نفوذ فلوکس.
نتایج تحقیقات در مجله مواد انرژی خورشیدی و سلول های خورشیدی با عنوان "ارزیابی تاثیر خوردگی ناشی از جریان جوش در سلول های خورشیدی TOPCon" منتشر شده است.
پیش از این، یک مطالعه مشترک توسط UNSW و Canadian Solar تایید کرد که انتخاب جریان برای قابلیت اطمینان سلول های TOPCon و heterojunction (HJT) بسیار مهم است.یک تیم جداگانه از موسسه فناوری الکترونیک کره (KETI) دریافت که جریان های تجاری می توانند الکترود های اکسید قلعین ایندیوم (ITO) را در سلول های HJT خورد کنندUNSW همچنین مکانیسم های تجزیه سلول های TOPCon را تحت محرک UV، کپسول کردن استات وینیل اتیلن (EVA) و قرار گرفتن در معرض یون های سدیم بررسی کرده است.نشان دادن حالت های مختلف شکست که در ماژول های PERC دیده نمی شود.
